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BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
關(guān)鍵詞：熱電，賽貝克系數(shù)，電阻率
BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)MRS-3RT專門針對(duì)常溫下薄膜材料的澤貝克系數(shù)和電阻率的測(cè)量?jī)x器，采用動(dòng)態(tài)法和四線法保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確和穩(wěn)定，擁有寬廣的測(cè)試范圍和便捷的操作界面。
產(chǎn)品特點(diǎn)
● 專門針對(duì)薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測(cè)量。
● 測(cè)試環(huán)境溫度范圍達(dá)到81K~700K。
● 采用動(dòng)態(tài)法測(cè) 量Seebeck系數(shù)，避免了靜態(tài)測(cè)量在溫差測(cè)量上的系統(tǒng)誤差，測(cè)量更準(zhǔn)確。
● 采用四線法測(cè)量電阻率。
● 卡箍設(shè)計(jì)，方便進(jìn)行樣品更換，提高效率。
● 軟件操作簡(jiǎn)單，智能化可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)模式。
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)
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型號(hào)
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BKTEM-B1
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溫度范圍
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RT
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測(cè)試氣氛
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空氣
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測(cè)量范圍
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賽貝克系數(shù)：|S| ≥ 8μV/K
電阻率：0.1μΩ•m ~ 106μΩ•m
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分辨率
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澤貝克系數(shù)：0.05μV/K
電阻率：0.05μΩ•m
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相對(duì)誤差
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賽貝克系數(shù) ≤ ±7%
電阻率 ≤ ±10%
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樣品尺寸
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長(zhǎng)度:10mm~18mm；寬度:2mm~7mm；厚度：50nm~2mm
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主機(jī)尺寸
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170x250x220（mm）
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重量
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3.5kg
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